著者

芹沢 弘二 下川 英恵 寺崎 健

出版者

The Japan Institute of Electronics Packaging

雑誌

エレクトロニクス実装学会誌 (ISSN:13439677)

巻号頁・発行日

vol.6, no.5, pp.394-399, 2003-08-01 (Released:2010-03-18)

参考文献数

20

被引用文献数

2 3

著者

寺崎 健 池口 徹 合原 一幸 田中 智

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会論文誌. A, 基礎・境界 (ISSN:09135707)

巻号頁・発行日

vol.78, no.12, pp.1601-1617, 1995-12-25

被引用文献数

6

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本論文では,従来主として確率的な不規則現象としてとらえられてきた経済時系列データに対して,決定論的非線形ダイナミカル特性に関する解析を行う.解析の対象としたのは,対ドル円の為替レートおよび日経平均株価である.これらのデータの決定論的非線形ダイナミカル特性を定量的かつ客観的に評価するため,相関積分を用いた相関次元解析,ヤコビ行列推定法によるリヤプノフスペクトラム解析および決定論的非線形(区分線形)予測による解析を行った.相関次元解析では,いずれの場合にも相関積分から求められる局所的な傾きが収束せず,少なくとも次元が1けた程度の低次元のアトラクタを形成していないことが示唆された.リヤプノフスペクトラム解析では,いずれの場合でも最大リヤプノフ指数が正となり,決定論的カオスの特徴の一つでもある軌道不安定性を示唆する結果が得られた.最後に,決定論的非線形予測の解析結杲では,その予測精度と予測時間との関係は典型的な低次元カオスとは定性的に異なる.以上の結果により,本論文で解析した経済データは,少数自由度の力学系によって記述される典型的な決定論的カオスではない可能性が高く,軌道不安定性をもつ,より複雜な対象であることが示唆される.

著者

芹沢 弘二 下川 英恵 寺崎 健

出版者

社団法人エレクトロニクス実装学会

雑誌

エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of Japan Institute of Electronics Packaging (ISSN:13439677)

巻号頁・発行日

vol.6, no.5, pp.394-399, 2003-08-01

参考文献数

20

被引用文献数

3

著者

小島 清美 寺崎 健 三浦 英生 西村 朝雄

出版者

一般社団法人日本機械学会

雑誌

日本機械学會論文集. A編 = Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. A (ISSN:03875008)

巻号頁・発行日

vol.69, no.686, pp.1409-1414, 2003-10-25

参考文献数

20

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A practical structural design system for LSI packages has been developed based on object oriented and graphical user interface technologies. An object-oriented technology is applied for creating product model-based analytical model (PBAM) which is independent of analytical method or tool. It is easy to create any CAE model from the PBAM. Graphical user interface is another effective technology for easy operation. Design engineers only have to select a model of interest and revise the dimensions or materials of the package, if necessary. As soon as they finish revising the input data, a CAE model such as finite element meshes are generated and the analysis starts automatically. The life of the solder joints, for example, is automatically evaluated and the results are displayed on a CRT. This system is very effective for designing new, highly reliable LSI packages in a short time.